W dniu 19 listopada br. Instytut Nauki o Materiałach Wydziału Informatyki i Nauki o Materiałach był organizatorem Plenarnego Posiedzenia Komitetu Nauki o Materiałach PAN. Posiedzenie poprowadził Przewodniczący Komitetu prof. dr hab. inż. Adolf Maciejny, Członek Korespondent PAN. Spotkanie odbyło się w Auli im. Kazimierza Lepszego w budynku Rektoratu Uniwersytetu Śląskiego. Władze Uczelni reprezentowali m.in.: Prorektor ds. Ogólnych prof. zw. dr hab. Jerzy Zioło i Dziekan Wydziału Informatyki i Nauki o Materiałach prof. UŚ dr hab. inż. Zygmunt Wróbel. W posiedzeniu uczestniczyło 35 członków Komitetu i 10 Komisji Krystalografii Stosowanej Komitetu Krystalografii PAN i Sekcji Metod.

Posiedzenie odbyło się z okazji 30-lecia powstania

Dziekan WIiNoM UŚ - prof. UŚ dr hab. inż. Zygmunt Wróbel

i działalności Instytutu Nauki o Materiałach - dawnego Instytutu Fizyki i Chemii Metali (do 2003 roku). Na wstępie Dziekan Wróbel zaprezentował działalność naukową i dydaktyczną Wydziału Informatyki i Nauki o Materiałach, podkreślając istotę i znaczenie nauki o materiałach w rozwoju informatyki i sprzętu informatycznego oraz - odwrotnie - znaczenie informatyki dla rozwoju i opracowań nowych materiałów. Stwierdził, że Wydział właściwie rozumie te dwa istotne elementy w rozwoju cywilizacyjnym społeczeństwa i stąd zarówno jego dydaktyka jak i badania skupiają się na tych dwóch dyscyplinach.

Tematyką wiodącą Posiedzenia były metody badań materiałów. Jest ona związana z działalnością Instytutu Nauki o Materiałach oraz działalnością pracowników Instytutu w Komitecie Nauki o Materiałach PAN. Przy Instytucie istnieje i działa Sekcja Metod Badań Komitetu, a Przewodniczącym jej jest prof. zw. dr hab. Eugeniusz Łągiewka. Pracownicy Instytutu działają w tej Sekcji. Instytut jako jedyna jednostka uniwersytecka jest włączony w skład Komitetu, w którym pozostali członkowie to pracownicy politechnik i instytutów resortowych. Stąd Instytutowi, jako jednostce uniwersyteckiej, powierzono zadanie w Komitecie, dotyczące metodyki i metod badań struktury atomowej materiałów.

W toku Posiedzenia, Dyrektor Instytutu

prof. zw. dr hab Eugeniusz Łągiewka przedstawił aktualny stan metod badań struktury materiałów w Instytucie, posiadaną aparaturę, osiągnięcia metodyczne i kwalifikacje pracowników w zakresie stosowanych metod. Wypowiedz wzbudziła duże zainteresowanie zebranych, a Instytut otrzymał gratulacje i życzenia dalszych sukcesów w kształceniu specjalistów w zakresie metodyki badań materiałów.

Pozostałe referaty przedstawiały konkretne przykłady zastosowań metod rentgenowskich do rozwiązywania problemów struktury materiałów. Dr Tomasz Goryczka z Instytutu Nauki o Materiałach omówił możliwości badawcze nowego dyfraktometru rentgenowskiego X-Pert, zakupionego 2 lata temu przez Instytut. Zwrócił także uwagę na różnorodne zastosowania techniki stałego kata padania wiązki pierwotnej i reflektometrii do badań cienkich warstw i materiałów gradientowych. Technika ta jest już opanowana przez pracowników Instytutu i można ją stosować.

Następnie głos zabrali członkowie Sekcji spoza Instytutu. Prof. dr hab. Jerzy Pielaszek z Instytutu Chemii Fizycznej PAN w Warszawie omówił możliwości zastosowania polikrystalicznego dyfraktometru służącego do badań powierzchni materiałów, a prof. dr hab. Walery Arabczyk z Politechniki Szczecińskiej przedstawił referat na temat wykorzystania rentgenowskiej metody wyznaczania wielkości krystalitów i składu chemicznego powierzchni nanomateriałów do charakterystyki katalizatorów.

Spotkanie zakończyło się zwiedzaniem laboratoriów znajdujących się w budynku Instytutu przy ul. Bankowej 12, rozmowami indywidualnymi w zespołach, podziękowaniami za zorganizowanie Posiedzenia i przedstawienie interesującej tematyki.

prof. zw. dr hab. Eugeniusz Łągiewka
Dyrektor Instytutu Nauki o Materiałach