Od 26 do 30 czerwca 2011 r. w Wiśle odbyła się XIV Międzynarodowa Konferencja Mikroskopii Elektronowej EM2011. Głównym organizatorem przedsięwzięcia był Instytut Nauki o Materiałach Uniwersytetu Śląskiego.

Przewodniczącą Komitetu Organizacyjnego była prof. UŚ dr hab. Danuta Stróż, sekretarzem – dr Krystian Prusik. Honorowy patronat nad wydarzeniem objął JM Rektor UŚ prof. zw. dr hab. Wiesław Banyś.

Konferencja miała na celu zapoznanie uczestników z nowoczesnymi technikami mikroskopii elektronowej, wymianę doświadczeń oraz wzmocnienie międzynarodowej współpracy w zakresie stosowanej metody badań. Wzięło w niej udział 160 uczestników, w tym 40 gości zagranicznych z 15 krajów, m.in. z Austrii, Belgii, Republiki Czeskiej, Danii, Francji, Niemiec, Węgier, Japonii, Słowacji, Hiszpanii, Holandii, Wielkiej Brytanii, Ukrainy, USA.

W specjalnie przygotowanej sali ekspozycyjnej przedstawiciele firm prezentowali zainstalowane urządzenia oraz przybliżali uczestnikom konferencji najnowsze rozwiązania aparaturowe

Bardzo wysoki poziom merytoryczny konferencji zapewnili wykładowcy z najlepszych, zajmujących się mikroskopią elektronową placówek naukowych na świecie, wśród których znaleźli się m.in.: prof. Robert Sinclair (Stanford University, USA), prof. Rafal Dunin- Borkowski (Director Ernst Ruska-Centre for Microscopy, Juelich, Niemcy), dr Martin Hytch (CNRS, Francja), prof. Wolfgang Jaeger (Christian-Albrechts-University Kiel, Niemcy), dr Christoph Koch (Max Planck Institute for Intelligent Systems, Niemcy), prof. Janos Labar (Research Institute for Technical Physics and Materials Science, Węgry), prof. Michael Lehmann (Technical University, Berlin, Niemcy), prof. Kenji Matsuda (Toyama University, Japonia), prof. Jean-Paul Morniroli (Laboratoire de Metallurgie Physique et Genie des Materiaux, Francja), prof. Wolfgang Neumann (Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik, Berlin, Niemcy), prof. Makoto Shiojiri (Kyoto Institute of Technology, Japonia), dr Stefan Zaefferer (Max-Planck-Institut, Niemcy).

W trakcie konferencji odbyły się sesje poświęcone podstawowym metodom i technikom badawczym z zakresu transmisyjnej (TEM – EDS, EELS, EFTEM) i skaningowej (SEM – EDS, CL, EBSD) mikroskopii elektronowej. Dużą uwagę poświęcono też najnowszym technikom dyfrakcji elektronowej (PED, ADT) i wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej (HREM), oraz interpretacji obrazów mikroskopowych.

Wygłoszono 49 referatów z zakresu zastosowania technik mikroskopii elektronowej w inżynierii materiałowej i fizyce do badań: metali, ceramiki, polimerów, kompozytów, materiałów amorficznych i cienkich warstw oraz w takich dziedzinach, jak: medycyna, biologia oraz nauki o Ziemi. Wyniki badań pozostałych uczestników konferencji prezentowane były w sesji posterowej.

W konferencji wzięli także udział przedstawiciele przemysłu oraz firm produkujących aparaturę naukową, m.in. JEOL, Comef, Hitachi, Labsof, FEI, Zeiss, Oxford, Gatan, Nanomegas, Agilent, AM technogolies, UniExport, Tescan. W specjalnie przygotowanej sali ekspozycyjnej przedstawiciele koncernów prezentowali zainstalowane urządzenia oraz przybliżali uczestnikom konferencji najnowsze rozwiązania aparaturowe.

W trakcie kolacji konferencyjnej młodym naukowcom zostały wręczone nagrody za najlepsze zdjęcie oraz najlepszy abstrakt i poster. Laureatami I nagrody w każdej z kategorii zostali: mgr Robert Albrecht (Instytut Nauki o Materiałach, Uniwersytet Śląski), mgr Katarzyna Stan (IMIM PAN, Kraków), dr Łukasz Major (IMIM PAN, Kraków). Wyróżnienia w kategorii najlepszy abstrakt otrzymali doktoranci: mgr Robert Albrecht oraz mgr Jacek Krawczyk, realizujący swoje prace w Instytucie Nauki o Materiałach Uniwersytetu Śląskiego. Pracownik Instytutu Nauki o Materiałach naszego uniwersytetu – dr Grzegorz Dercz – został uhonorowany III nagrodą w konkursie na najlepsze zdjęcie z zakresu mikroskopii elektronowej.

Szczegółowe informacje na temat konferencji EM2011 dostępne są na stronie internetowej www.em2011.us.edu.pl